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    凝膠成像儀 UVP Glestudio plus/Glestudio Touch
    品牌:耶拿 產品用途:凝膠成像儀 產地類別:進口 產地:南京市 更新時間:2022-11-08 14:07
    摘要:凝膠成像儀 UVP Glestudio plus/Glestudio Touch:UVP從1932年開始生產供科研、工業及教育應用的紫外透照燈、紫外手燈等一系列實驗室用紫外成像設備,成為紫外影...
    電議
    南京新飛達光電科學技術有限公司
    • 公司名稱:南京新飛達光電科學技術有限公司
    • 工商注冊號:320191000024105
    • 法定代表人:王放
    • 成立日期:2010-02-1013年
    • 注冊資本:200萬人民幣
    • 企業類型:有限責任公司(自然人投資或控股)
    • 登記狀態:存續
    • 登記機關:南京市江北新區管理委員會行政審批局
    • 注冊住所:南京高新開發區南京軟件人才培訓交流中心113室
    • 經營范圍:一般項目:科技推廣和應用服務;實驗分析儀器銷售;儀器儀表制造;儀器儀表修理;環境保護專用設備銷售;智能儀器儀表銷售;專用化學產品銷售(不含危險化學品);軟件開發;軟件銷售;互聯網銷售(除銷售需要許可的商品);會議及展覽服務;辦公設備銷售;辦公設備耗材銷售;招投標代理服務;信息技術咨詢服務;貨物進出口;進出口代理;第二類醫療器械銷售(除依法須經批準的項目外,憑營業執照依法自主開展經營活動)
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    • 布魯克發布Bruker高分辨率X射線三維顯微成像系統(Micro-CT)新品 布魯克發布Bruker高分辨率X射線三維顯微成像系統(Micro-CT)新品 2019/12/31 17:42:09 點擊 8 次 [導讀] 近日,大昌華嘉科學儀器在儀器信息網發布Bruker高分辨率X射線三維顯微成像系統(Micro-CT)新品 X射線顯微CT:最先進的無損三維顯微鏡顯微CT即Micro-CT,為三維X射線成像,與醫用CT(或“CAT”)原理相同,可進行小尺寸、高精度掃描。通過對樣品內部非常細微的結構進行無損成像,真正實現三維顯微成像。無需樣本品制備、嵌入、鍍層或切薄片。單次掃描將能實現對樣品對象的完整內部三維結構的完整成像,并且最后可以完好取回樣本品!特點:最先進的掃描引擎—可變掃描幾何:可以提高成像質量,或將掃描時間縮短1/2到1/5支持重建、分析和逼真成像的軟件套件自動樣品切換器技術規范:X射線源:20-100kV,10W,焦點尺寸<5 m@4WX射線探測器:1600萬像素(4904×3280像素)或1100萬像素(4032×2688像素)14位冷卻式CCD光纖連接至閃爍體標稱分辨率(最大放大率下樣品的像素):1600萬像素探測器<0.35um;1100萬像素探測器<0.45um,重建容積圖(單次掃描):1600萬像素探測器,最高14456×14456×2630像素 1100萬像素探測器,最高11840×11840×2150像素掃描空間:最大值:直徑75mm,長70mm輻射安全:在儀器表面的任何一點上<1 uSv/h外形尺寸:1160(寬)×520(深)×330(高)毫米(帶樣品切換器高440毫米)重量:150千克,不含包裝電源:100-240V / 50-60Hz,典型值:在最大X射線功率下為90W創新點:微CT即Micro-CT,為三維X射線成像,與醫用CT(或“CAT”)原理相同,可進行小尺寸、高精度掃描。通過對樣品內部非常細微的結構進行無損成像,真正實現三維顯微成像。無需樣本品制備、嵌入、鍍層或切薄片。單次掃描將能實現對樣品對象的完整內部三維結構的完整成像,并且最后可以完好取回樣本品!
    • 布魯克發布Bruker全自動高速X射線三維顯微成像系統(Micro-CT新品 布魯克發布Bruker全自動高速X射線三維顯微成像系統(Micro-CT新品 2019/12/31 17:42:22 點擊 7 次 [導讀] 近日,大昌華嘉科學儀器在儀器信息網發布Bruker全自動高速X射線三維顯微成像系統(Micro-CT新品 僅需按下啟動按鈕即可啟動 CT快速桌面解決方案!超高速度、優質圖像SKYSCAN 1275專為快速掃描多種樣品而設計。該系統采用一個功能強大的廣角X射線源(100 kV)和高效的大型平板探測器,可以輕松實現大尺寸樣品掃描。由于X射線源到探測器的距離較短以及快速的探測器讀出能力,SKYSCAN 1275可以顯著提高工作效率——從幾小時縮短至幾分鐘,并保證不降低圖像質量。SKYSCAN 1275如此迅速,甚至可以實現四維動態成像。Push-Button-CT 讓操作變得極為簡單您只需選擇手動或自動插入一個樣品,就可以自動獲得完整的三維容積,無需其他操作。Push-Button-CT包含了所有工作流程:自動樣品尺寸檢測、樣品掃描、三維重建以及三維可視化。選配自動進樣器,SKYSCAN 1275可以全天候工作。靈活易用、功能全面除了Push-Button-CT模式,SKYSCAN 1275還可以提供有經驗用戶所期待的 CT系統功能。所有測量都支持手動設置,從而確保為難度較大的樣本設置最佳參數。即使在分辨率低于5 m的情況下,典型掃描時間也在15分鐘以內。無隱性成本:一款免維護的桌面 CT封閉式X射線管支持全天候工作,不存在因更換破損的燈絲而停機的情況,為您節約大量時間和成本。特點:X射線源:涵蓋各領域應用,從有機物到金屬樣品標稱分辨率(最大放大倍數下的像素尺寸):檢測樣品極小的細節X射線探測器:3 MP(1,944 x 1,536)有效像素的CMOS平板探測器,高讀取速度,高信噪比樣品尺寸:適用于小-中等尺寸樣品輻射安全:滿足國際安全要求供電要求:標準插座,即插即用創新點:SKYSCAN 1275 專為快速掃描多種樣品而設計。該系統采用一個功能強大的廣角X 射線源(100 kV)和高效的大型平板探測器,可以輕松實現大尺寸樣品掃描。由于X射線源到探測器的距離較短以及快速的探測器讀出能力,SKYSCAN 1275 可以顯著提高工作效率——從幾小時縮短至幾分鐘,并保證不降低圖像質量。SKYSCAN 1275 如此迅速,甚至可以實現四維動態成像。Push-Button-CT 讓操作變得極為簡單您只需選擇手動或自動插入一個樣品,就可以自動獲得完整的三維容積,無需其他操作。Push-Button-CT 包含了所有工作流程:自動樣品尺寸檢測、樣品掃描、三維重建以及三維可視化。選配自動進樣器,SKYSCAN 1275可以全天候工作。靈活易用、功能全面除了 Push-Button-CT 模式,SKYSCAN 1275 還可以提供有經驗用戶所期待的 CT 系統功能。所有測量都支持手動設置,從而確保為難度較大的樣本設置佳參數。即使在分辨率低于 5 m 的情況下,典型掃描時間也在15 分鐘以內。無隱性成本:一款免維護的桌面 CT 封閉式 X 射線管支持全天候工作,不存在因更換破損的燈絲而停機的情況,為您節約大量時間和成本。
    • 布魯克發布Bruker多量程X射線三維納米顯微成像系統(Nano-CT)新品 布魯克發布Bruker多量程X射線三維納米顯微成像系統(Nano-CT)新品 2019/12/31 17:42:54 點擊 10 次 [導讀] 近日,大昌華嘉科學儀器在儀器信息網發布Bruker多量程X射線三維納米顯微成像系統(Nano-CT)新品 SKYSCAN 2214 是布魯克推出的新納米斷層掃描系統,是顯微 CT 技術領域的先行者,在為用戶帶來了終級分辨率的同時,提供非常好的用戶體驗。SKYSCAN 2214 的每個組件都融入的新的技術,使其成為當今市場上性能很強、適用性很廣的系統?!龆嘤猛鞠到y,樣品尺寸可達300mm,分辨率(像素尺寸)可達 60 納米■金剛石窗口x射線源,焦斑尺寸地質、石油和天然氣勘探■常規和非常規儲層全尺寸巖心或感興趣區的高分辨率成像■測量孔隙尺寸和滲透率,顆粒尺寸和形狀■測量礦物相在3D空間的分布■原位動態過程分析聚合物和復合材料■以創新點:SKYSCAN 2214 是布魯克推出的新納米斷層掃描系統,是顯微 CT 技術領域的先行者,在為用戶帶來了終級分辨率的同時,提供非常好的用戶體驗。SKYSCAN 2214 的每個組件都融入的新的技術,使其成為當今市場上性能很強、適用性很廣的系統。
    • 布魯克發布Bruker 高通/能量三維X射線顯微成像系統(Micro-CT)新品 布魯克發布Bruker 高通/能量三維X射線顯微成像系統(Micro-CT)新品 2019/12/31 17:42:39 點擊 4 次 [導讀] 近日,大昌華嘉科學儀器在儀器信息網發布Bruker 高通/能量三維X射線顯微成像系統(Micro-CT)新品 Skyscan1273是Bruker最新的基于微型計算機斷層掃描(Micro-CT)技術的臺式3DX射線顯微成像系統。最大可容納長度不超過500mm、直徑不超過300mm、最大重量為20kg的樣品,這是臺式顯微成像設備進行無損檢測(NDT)的新標準。一流的硬件讓Skyscan1273成為強有力的工具。高能量的X射線源和具有最高靈敏度和速度的大幅面平板探測器的結合,在短短幾秒鐘內就能提供出色的高質量圖像。全面的軟件,直接進行數據收集,先進的圖像分析,強大的可視化使Skyscan1273成為一個簡單易用的3DX射線顯微成像系統。Skyscan1273臺式3DX射線顯微成像系統占地面積小,簡單易操作,幾乎無需維護。因此,Skyscan1273運行穩定,性價比極高。特點40-130kV低成本免維護X射線源8位濾光片轉換器自動進行能量選擇GPU加速性能可提高3D重構速度大尺寸圖像的自動拼接偏移掃描利用螺旋掃描和精準重構可獲得最佳的平面結構圖像質量借助HARTPlus,對大寬高比物體在保持圖像質量的情況下,掃描速度可提高4倍參數 X射線源:40-130kV,39W, X射線探測器:600萬像素平板探測器(3072×1944像素) 標稱分辨率(最大放大率下樣品的像素):圖像分辨率<3um;空間分辨率<5um, 重建容積圖(單次掃描):最高4800×4800像素 樣品尺寸:最大值:直徑250mm,長500mm,重量20kg 掃描空間:最大值:直徑250mm,長300mm 輻射安全:在儀器表面的任何一點上<1uSv/h 外形尺寸:1250(寬)×815(深)×820(高)毫米 重量:400千克,不含包裝 電源:100-240V/50-60Hz/3A創新點:Skyscan 1273是Bruker最新的基于微型計算機斷層掃描(Micro-CT)技術的臺式3D X射線顯微成像系統。最大可容納長度不超過500 mm、直徑不超過300 mm、最大重量為20 kg的樣品,這是臺式顯微成像設備進行無損檢測(NDT)的新標準。一流的硬件讓Skyscan 1273成為強有力的工具。高能量的X射線源和具有最高靈敏度和速度的大幅面平板探測器的結合,在短短幾秒鐘內就能提供出色的高質量圖像。 全面的軟件,直接進行數據收集,先進的圖像分析,強大的可視化使Skyscan 1273成為一個簡單易用的3D X射線顯微成像系統。 Skyscan 1273臺式3D X射線顯微成像系統占地面積小,簡單易操作,幾乎無需維護。因此,Skyscan 1273運行穩定,性價比極高。
    • 熒光分布成像系統(EEM View)觀察熒光體樹脂片 熒光分布成像系統(EEM View)觀察熒光體樹脂片 2019/11/28 14:24:47 點擊 25 次 目前,照明燈和液晶顯示屏的背光源均采用白色LED燈。因此,為了進一步提升產品性能,Mini LED背光源和Micro LED顯示屏的研發正在緊鑼密鼓的進行中。熒光分布成像系統(EEM View)是能夠同時獲取樣品圖像和光譜信息的新附件。入射光通過照射積分球內壁,獲得均勻光源,進而觀察樣品。利用F-7100標配的熒光檢測器可以獲得熒光光譜,結合積分球下方的CMOS相機裝置拍攝圖像,并利用AI光譜處理算法,可以同時得到反射和熒光圖像。相信未來EEM View會在LED零配件內的熒光體光學特性評價中得到廣泛的應用。1.熒光體樹脂片(50 mm×50 mm)的熒光特性此次實驗測定了在面發光LED中使用的熒光體樹脂片。對樣品照射360~640nm的單色光,得到了樣品特有的熒光特性。EEM View模式下,可同時獲得不同光源條件的樣品圖像。通常,白色LED燈發光原理是采用藍光LED發光二極管在455nm附近激發熒光體,產生580~650nm的黃色熒光,從而與LED發出的藍光混合形成白光(圖1)。由圖2、圖3可以看出,此次測定的樣品熒光體樹脂片,在455nm附近被藍光LED燈激發,發出相當于625nm的黃色熒光。圖1 白色LED發光原理圖2 三維熒光光譜圖3 激發光譜和發射光譜2. 熒光體樹脂片的分布均勻性確認 熒光成分圖像 熒光成分圖像 (分布不均勻區域) (分布均勻區域) 圖4 樹脂片的圖像和光譜圖4為樹脂片的熒光成分圖像,左邊是熒光體分布不均勻區域的熒光圖像和光譜,右邊是熒光體分布均勻的熒光圖像和光譜,從熒光圖像中可以看出熒光體的分布情況。此外,通過不同位置計算出的熒光光譜,可以發現樹脂片不同位置的熒光強度存在差異。對于熒光體分布不均勻的樹脂片(左圖),它的中心位置亮度偏高。而且從熒光光譜中可以看到,3個位置的熒光光譜峰值熒光強度最 大偏差15%。熒光分布成像系統是全球首創的新技術,它將有助于獲得研發和應用領域的多方面信息表征,密切關注日立高新技術公司官網,更多應用持續更新中。
    • 日立新品!熒光分布成像系統---測定萬圣節貼紙 日立新品!熒光分布成像系統---測定萬圣節貼紙 2019/10/31 14:52:58 點擊 214 次 日立新品!熒光分布成像系統---測定萬圣節貼紙剛剛過去的BCEIA大會,日立發布了全球獨創的熒光分布成像系統(EEM View),今天就用它來測定萬圣節必不可少的南瓜貼紙。EEM View是日立全球首創在熒光分光光度計中加入CMOS相機的系統,能夠同時獲得樣品的圖像和光譜信息,突出亮點是可以獲得樣品圖像任意區域的光譜性能。南瓜貼紙光譜信息鑒賞各式各樣的南瓜貼紙中含有大量熒光粉,眾所周知,這種貼紙暴露在黑暗中會發出熒光。圖1所示便是這次鑒賞南瓜頭貼紙的熒光分布成像系統,從圖中可以清晰看到新附件的結構,CMOS相機位于積分球下方,樣品安放在積分球上方,入射光經過積分球漫反射獲得均勻光源,激發樣品產生熒光。更多詳細信息請點擊:總結一般的熒光分光光度計測得的是樣品區域表面平均化后的信息,只能獲得一條熒光光譜,而日立熒光分布成像系統能夠同時獲取樣品不同位置的光譜信息,有利于探究樣品表面的光學性能分布。日立高新技術以‘讓世界充滿活力’為宗旨,致力于新技術的融合與開發,這次推出的新品熒光分布成像系統將對油墨、材料、化工、涂料以及LED等領域帶來新的啟發,新的探索方法。
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